NV E620鋼板

 

 

 

 

 

 

 

 

耐食性への影響

 

リンの偏析は、NV E620 溶接の熱影響部の耐食性に悪影響を及ぼします。腐食環境では、偏析領域の化学組成が周囲のマトリックスの化学組成と異なり、局所的なマイクロバッテリーが形成されます。リンの偏析領域はアノードとして機能し、酸化反応を起こしやすいため、腐食プロセスが加速されます。

 

たとえば、塩化物イオンを含む湿潤な環境では、リン偏析領域の金属原子が電子を失い、酸化されて溶液に入る金属イオンになる可能性が高くなりますが、周囲の陰極領域では還元反応が発生します。この局所的な電気化学腐食は、溶接の熱影響部に孔食、粒界腐食、その他の腐食形態を引き起こし、材料の耐用年数と信頼性を低下させます。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

学年	要素最大値 (%)
	C	シ	ん	P	S	アル	N
NV E620	0.20	0.10-0.55	1.7	0.030	0.030	0.015-0.08	0.020
	注意	V	ティ	銅	B	ニ	モー
	0.02-0.05	0.04-0.10	0.02		0.005

 

 

 

疲労性能への影響

 

NV E620 溶接の熱影響部にリンが偏析すると、材料の疲労性能が低下します。交互荷重下では、リン偏析領域は硬度が高く、脆性相が存在するため、亀裂が発生しやすくなります。これらの亀裂は、交互応力の繰り返し作用により継続的に拡大します。

 

疲労 - 亀裂伝播の観点から見ると、リン偏析領域の微細な構造欠陥は、亀裂伝播にとってより好ましい経路を提供します。非偏析領域と比較して、偏析領域の応力集中係数は高く、これらの領域で疲労亀裂が発生して拡大しやすくなり、最終的には応力レベルよりも低い応力レベルで材料の疲労破壊につながります。通常の疲労強度。

 

 

 

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